Muutto ensiasuntoon edessä? Tuotteita unelmien opiskelijaboksiin täältä! >> 
High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures, High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Lisätiedot:
| Tekijä: | Ulrich Pietsch,Vaclav Holy,Tilo Baumbach |
| Sivujen määrä: | 408 |
| Julkaisuvuosi: | 2004 |
| Tuotekoodi: | 103129310 |
Lisätietoja
Myyjä:
595 €
1295 €
1395 €
Toimitusajat ovat arvioita. Tarkka toimituspäivä näytetään postinumeron syöttämisen jälkeen tai tilausvahvistuksessa.
595 €
1395 €
1395 €
Toimitusajat ovat arvioita. Tarkka toimituspäivä näytetään postinumeron syöttämisen jälkeen tai tilausvahvistuksessa.
Myyjä:
- 100% asiakkaista suosittelee tätä myyjää.
Tuotteen kuvaus: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
Yleiset tuotetiedot: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
| Tuotekoodi: | 103129310 |
| Kategoria: | Talouskirjat |
| Pakkausten määrä: | 1 kpl |
| Pakkauksen koko ja paino (1): | 0,244 x 0,165 x 0,022 m, 0,84 kg |
| Myyjän kotimaa: | Liettua |
| Kustantamo: | Springer-Verlag GmbH |
| Kirjan kieli: | Englanti |
| Kannen tyyppi: | Kovaa |
| Muoto: | Perinteinen kirja |
| Tyyppi: | Ei ole määritelty |
| Myyjä: | Patogupirkti |
| Tekijä: | Ulrich Pietsch,Vaclav Holy,Tilo Baumbach |
| Sivujen määrä: | 408 |
| Julkaisuvuosi: | 2004 |
Lisätietoja
Tuotteiden kuvat ovat havainnollistavia. Tuotekuvauksen videolinkit ovat vain tiedoksi, joten niiden sisältämät tiedot voivat poiketa itse tuotteesta. Alkuperäisten tuotteiden värit, huomautukset, parametrit, mitat, koot, ominaisuudet ja/tai muut ominaisuudet voivat poiketa niiden todellisesta ulkonäöstä, joten katso tuotetiedot tuotekuvauksista.
Muita kiinnostavia tuotteita
Kumppanitarjoukset
Sponsoroitu
Arviot ja arvostelut (0)
High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Ole ensimmäinen, joka jättää arvostelun!
Tätä tuotetta voivat arvioida vain Hobbyhall.fi rekisteröityneet asiakkaat.
Kirjoita arvostelu